1.被測物體特性
基體金屬性質：基體金屬的磁性、電導率等物理性質對測量有影響。例如，磁性法測厚時，基體金屬磁性變化會影響測量結果，即使是低碳鋼的磁性變化也需考慮，應使用與試件金屬具有相同性質的標準片校準儀器；電渦流測厚儀則受基體金屬電導率影響，而電導率與材料成分及熱處理方法有關，同樣需要用相同性質的標準片校準。
基體金屬厚度：每種涂層測厚儀都有基體金屬的臨界厚度，大于該厚度測量不受基體厚度影響，但小于臨界厚度時，測量結果可能會因基體厚度的變化而產(chǎn)生偏差。
表面粗糙度：基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度越大，對測量結果的影響越明顯。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，導致測量不準確、重復性差。因此，在測量前需對表面進行適當處理，如打磨、拋光等，以減小粗糙度對測量的影響。
曲率半徑：對于彎曲表面的測量，曲率半徑越小，測量誤差越大。因為常用的探頭表面為平面，與曲面接觸時聲強透射率低、耦合不好，尤其是在小管徑測厚時更為明顯。
邊緣效應：涂層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感，在靠近試件邊緣或內轉角處測量不可靠，這些部位的測量結果通常會比實際值偏大或偏小。
內部缺陷：當材料內部存在夾雜、夾層等缺陷時，超聲波在其中穿過時會產(chǎn)生嚴重的散射衰減，可能導致回波湮沒，造成測量結果不顯示或顯示值與實際厚度不符。
2.儀器相關因素
探頭性能：探頭是測厚儀的關鍵部件，其接觸面磨損、老化或污染等都會影響測量精度。長期使用的探頭表面粗糙度可能增加，導致靈敏度下降，從而使測量結果不準確。因此，要定期檢查和更換探頭。
校準準確性：儀器若未經(jīng)過正確校準或校準過期，會導致測量結果出現(xiàn)偏差。校準時應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片或待涂覆試件進行校準，以確保測量的準確性。
設備故障：儀器本身的電子元件故障、軟件問題等也可能導致測量結果異常。例如，信號處理電路故障可能使測量信號無法準確傳輸和處理，從而影響測量結果的準確性。
3.環(huán)境因素
溫度：溫度變化會引起金屬材料的熱脹冷縮，從而影響鍍層的厚度和儀器的性能。此外，高溫環(huán)境還可能影響探頭的靈敏度和耦合效果，進而影響測量結果的準確性。
濕度：高濕度環(huán)境可能導致被測物體表面潮濕，影響探頭與被測物體之間的耦合效果，使測量結果不準確。同時，濕度還可能對儀器內部的電子元件造成腐蝕和損壞，影響儀器的正常工作。
外磁場干擾：外部磁場的存在會干擾磁感應型測厚儀的測量，使其測量結果出現(xiàn)偏差。因此，在使用磁感應型測厚儀時，應遠離強磁場環(huán)境或采取屏蔽措施。
4.金屬鍍層測厚儀操作因素
測量壓力：測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量讀數(shù)，壓力過大或過小都可能導致測量不準確。因此，測量時應保持壓力恒定，并按照儀器的操作規(guī)范進行操作。
測頭取向：測頭的放置方式對測量有影響，應使測頭與試樣表面保持垂直，否則會導致測量結果出現(xiàn)偏差。
附著物質：被測物體表面的附著物質，如灰塵、油污、氧化皮等，會影響探頭與被測物體的緊密接觸，從而導致測量結果不準確。因此，在測量前需要清理被測物體表面的附著物質。
